晶圆检测金相显微镜

    WMT12系列为大平台半导体检查显微镜，专为芯片/晶圆/LCD行业/ 粒子爆破检查,其微分干涉效果可与进口品牌相媲美,MT12系列机型采用全新设计的长工作距物镜、半复消色差技术，多层宽带镀膜技术，采用长寿命LED光源多种高度功能化的附件，能满足各种检验需要，可用于明场、暗场、简易偏光、微分干涉观察。

■ 所有光学部件均经过特殊处理并镀有特殊膜层

■ 12英寸大平台半导体检查显微镜，其微分干涉效果可与进口品牌相媲美

■ 12英寸大平台半导体检查显微镜机型采用全新设计的长工作距物镜、半复消色差技术，多层宽带镀膜技术。

■ 各种观察方法下都能得到清晰锐利与高对比度的显微图像

■ 多种高度功能化的附件，能满足半导体检查各种场景需要。

     不同于传统的金相显微镜，WMT12金相系统显微镜选择了紧凑的结构设计，外观大气稳重，操作更为灵活。集成了明场、暗场、偏光、DIC微分干涉等多种观察功能，可根据实际应用进行选择。

SWH10X-H/25mm高眼点大视野平场目镜， 屈光度可调。

SWH10X-H/25mm超宽25mm视野高眼点目镜，相对常规22mm的视场范围，视野更加平坦，宽广，并且视场边缘都能清晰明亮，给用户更加舒适的视觉感受。提供更加平台的观察范围，提高工作效率。更大值域屈光度调节范围可满足更多用户的使用需求。

亦可选配其它倍率、视场，并根据不同需求添加指针、测微尺及视度可调功能。

       偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更去清洗。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.

在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度。

       采用高性能微分干涉组件，可以将明场观察下无法检测的细微高低差，转化为高对比度的明暗差并以立体浮雕形式表现出来，广泛用于LCD导电粒子，精密磁盘表面划痕检测等领域。

        大行程平台含快速移动装置，平台面积710*420mm，玻璃台面：418mm*310mm，移动行程：356mmX305mm机械平台，X、Y方向同轴调节；手动XY载物台通过内嵌的离合器机构和XY调节手柄，可粗调和微调载物台位置。使用离合装置，操作员可在观察中自由移动载物台，提高整体效率。这样，可在使用目镜观察的过程中，不受限制地移动载物台，使得观察速度更快，操作更舒适。