WGD-BDT40半导体晶圆显微镜
WGD-BDT半导体晶圆系列金相显微镜含4、6、8英寸多种平台,可适用不同尺寸的晶圆检测。涵盖明暗场、偏光、DIC等多种观察方式,专业应用于半导体、FPD、电路封装、电路基板、材料、精密模具等检测领域。采用全新LED照明系统和光学系统,照明均匀,成像清晰。显微镜和软件双相控制,能够快速、精确的完成检查,操作更加方便快捷。
半导体晶圆系列显微镜
型号:WGD-BDT40
产品介绍
WGD-BDT半导体晶圆系列金相显微镜含4、6、8英寸多种平台,可适用不同尺寸的晶圆检测。涵盖明暗场、偏光、DIC等多种观察方式,专业应用于半导体、FPD、电路封装、电路基板、材料、精密模具等检测领域。采用全新LED照明系统和光学系统,照明均匀,成像清晰。显微镜和软件双相控制,能够快速、精确的完成检查,操作更加方便快捷。
机台功能
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晶圆观察
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材料分析
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芯片瑕疵
机台规格参数
- 无限远色差校正光学系统
- 光学放大倍率20X~200X(可选500/1000倍)
- 高眼点大视野目镜,视度可调
- 明场5孔转换器(带DIC插槽)
- 无限远铰链三通观察筒,角度可调,瞳距调节:50mm~76mm,两档分光比双目:三目=100:0
- 无限远超长工作距离高分辨率全复消色差物镜5X/10X/20X/50X(可选配100X)
- 反射用机架,低手位粗微同轴调焦机构,粗调行程35mm,微调精度0.001mm,带有防止下滑的调节松紧装置和随机上限位装置。内置100-240V宽电压系统,采用数字调光,具有光强设定与复位功能
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4英寸平台,平台面积450mm*240mm,移动行程158mm*158mm机械平台
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X、Y方向同轴调节,含快速移动装置
- 明场反射照明器,带可变孔径光阑,视场光阑,中心可调,带滤色片插槽,带起偏镜/检偏镜插槽
- 5W可调LED灯,透、反射通用
- 1X,C型接口,可调焦(可选0.65X)
130万像素CCD显示系统
CCD功能特性
- 采用千兆以太网接口快速实时传输非压缩图像
- 千兆以太网接口提供了1Gbps带宽,最大传输距离可达100米
- 128M板上缓存,可缓存多张图片,用于突发传输或者重传
- 支持自动曝光控制,用户自定义查打表LUT、Gamma校正等
- 彩色相机植入优异的图像插值算法,更好的颜色还原,并且支持自动白平衡
软体基本功能:
- 影像直接显示器观察,并直接量测存档
- 点、线、圆、弧皆可多点测定
- 影像寻边及自动去毛边功能,使量测过程更轻松、准确
- 量测数据可输出至WORD、EXCEL进行编修
- 角度计算单位:十进制或60进制
- 影像拍照保存为JPG、BMP等格式
- 点、圆、线距离
- 圆、弧(R角)之直径、半径
- 交点、角平分线、中点
- 两圆中心距离、最短距离、最长距离
- 两线之夹角
- 图形区可存DXF,是CAD逆向工程的最佳利器
- 可自由设定计算单位:公、英制
- 可导入图片比对
- 圆及两线距离两种校正倍率方式
- 公差计算:平行度、垂直度等
- 100倍以上视野内测量精度达到1um
恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。